X射线荧光分析的一个显著特点是试样制备简单。如果用实际考察过的制样设备能进一步简化您的工作。

    斯派克公司有一系列XRF光谱分析用辅助设备，包括：用于制备熔片的试样熔融系统。试样熔融后可防止颗粒度、基体和表面粗糙效应。手动压力机和压样膜把粉末试样直接压成试片。熔融和压片都能直接放在光谱仪上分析而无需进一步加工。如果某些样品还需要进一步粉碎，斯派克公司有不同的粉碎机、球磨、振动和离心磨。