新型SPECTRO XEPOS光谱仪拥有卓越的新元素分析性能水平,重新定义ED-XRF

星期二, 一月 19, 2016

克莱沃—2016年1月19日—斯派克分析仪器公司今天发布了新的SPECTRO XEPOS光谱仪系列产品,代表了能量色散X射线荧光(ED-XRF)技术的重大飞跃,也是高、低及痕量水平多元素分析的突破性进步。 

新型SPECTRO XEPOSED-XRF在激发和检测方面的新发展提供杰出的灵敏度和检出限,并大幅提高精确性和准确度。这些分析仪在各种重要任务中表现出色,从环境和废物取样的快速筛查元素分析,满足研究、学术和地质科学领域的应用要求。它们支持多种应用中的精确临线产品质量控制,如化工和石化生产,以及水泥、化妆品、食品、药物等的生产。

新系列SPECTRO XEPOS光谱仪特点:

  • 超高灵敏度: 适应性激发以及射线管和检测器技术的创新大幅改善灵敏度——通常达到10倍或更高——明显提高精确性,大幅降低检测水平,为钠到铀等多种元素提供快速准确的分析。采用新型高计数检测器和射线管设计、具有全新灵敏度和最小化背景的,该新型分析仪的专利适应性激发技术能实现多种元素的超低检出限(LOD)。
  • 无以伦比的精确性:不同于大多ED-XRF元素分析仪,SPECTRO XEPOS光谱仪的X射线管可在两次测量之间保持通电,防止开关变化影响读数。这确保了长期稳定性、实现元素分析中的高精确度——最高比以往提高两倍——对痕量元素到主要成分的分析结果准确性均大幅提高。
  • 测量速度更快:对于那些对速度的要求大过高精确度的用户来说,SPECTRO XEPOS分析仪能显著缩短测量时间,但同时能维持媲美传统ED-XRF光谱仪的精确度水平。得益于系统的高速度,大多样本的分析能在几分钟内完成。

重新设计的操作软件提供经验证的简便和能力,独特的新TurboQuant II软件快速准确地分析几乎任何未知的液体、粉末或固体样本。此外,新型SPECTRO XEPOS光谱仪的拥有成本明显低于波长色散X射线荧光(WD-XRF)光谱仪——从而在很多应用中以ED的价格实现WD的性能。

可选的AMECARE M2M(机器对机器)支持扩展新分析仪的自诊断功能,包含主动警报,由斯派克服务专家通过电脑远程直接监测提供支持。

新系列SPECTRO XEPOS ED-XRF光谱仪现已由斯派克分析仪器公司发售。该仪器提供四个高级型号,让用户能根据测量速度、超高精确度或特定基体的目标元素组进行选择。