斯派克推出新一代SPECTRO MIDEX小点ED-XRF分析仪,成就更快捷、更准确的贵金属元素分析

星期二, 七月 26, 2016

德国克莱沃 — 2016年7月26日 — 斯派克分析仪器公司今天宣布推出新一代 SPECTRO MIDEX小点能量色散X射线荧光 (ED-XRF)分析仪,实现更快、更准确的贵金属元素分析。 

新一代SPECTRO MIDEX分析仪是火试金法的智能替代方法,不仅在精确度方面接近火试金法,更在速度和易用性方面超越了它。

新一代SPECTRO MIDEX分析仪集成ED-XRF检测器技术的最新发展,并提升了精确性。该创新帮助它成为贵金属测试领域现有最先进的中级实验室XRF台式分析仪之一。该新仪器既能提高元素分析的准确度——这是贵金属冶炼方面至关重要的一点,也能显著加快测试时间,从而提高样本产出量——这是高吞吐量检测中心的优先事项之一。它更容易操作,配备实用软件,可轻松将结果传送到实验室网络中。 

新型SPECTRO MIDEX分析仪的具体特点和益处包括:

- 多种含量水平检测的高精确度和准确性——且测试时间短(通常30-40秒)。对于小件珠宝或重熔样品的钻屑,它分析一个小点(一般为1毫米)。对于银质样本,因质地可能相对不均匀,通过选择较大点面积获得平均结果来维持高准确度。

- 易用性卓越,直观软件,单一屏幕显示所有相关信息。集成视频系统协助准确定位样本及记录测试点。分析结果的显示、打印和传送支持日后数据使用和/或作为合规证据。

- 供贵金属测试办公室、分析实验室、检测中心和冶炼实验室进行富有竞争力和高成本效益的贵金属测试。其准确性和速度减少了进行额外耗费成本的ICP-OES或火试金法测试的必要性,后两种测试方法均需要融解样品。

- 高分辨率硅漂移检测器(SDD)使微量和少量元素鉴定更加准确。超高计数率进一步增加精确性。在老型号同样的测试时间内,新型号提供四倍的强度。

- 相比以往的120秒分析时间,速度显著提高。新仪器扫描仅需30秒即可达到以往型号同样的准确度。

- 设计紧凑的机身内拥有宽敞的测量室,可处理从细小珠宝别针到大件银饰的样本。样本放置于升降台上,通过转动把手将其调整到最理想的测试位置。关上分析仪的门,点击屏幕一次即可开始分析。

可选的AMECARE M2M(机器对机器)支持扩展自诊断功能,包含主动警报,由斯派克服务专家通过电脑远程直接监测提供支持。 

新一代SPECTRO ARCOS已经由斯派克分析仪器公司上市销售。如需了解更多信息,请访问http://www.spectro.com/midex,或电邮spectro.info@ametek.com