Analysis of Trace Elements in Tungsten

应用报告

SPECTROGREEN MS在分析钨中痕量杂质元素中的应用

钨因其独特的物理特性-如高熔点和低热膨胀性-在要求严苛的工业应用中不可或缺。然而,微量杂质会对晶粒生长和整体材料性能产生负面影响。为确保初级生产、回收和制造过程中的产品质量,精确的元素分析至关重要。本报告展示了如何使用SPECTROGREEN MS ICP-MS分析仪成功分析高纯度钨中的22种微量元素。

SPECTROGREEN MS ICP-MS在常规元素分析方面表现出色,具有高灵敏度、稳定性和简化的操作流程。其碰撞/反应池技术有效减少了多原子干扰,而先进的四极杆数字序列发生器和双级检测器则实现了快速切换和宽动态范围。该系统结合直观的软件和内置的审计追踪功能,为专注于金属分析的实验室提供了合规、可追溯的工作流程。
 
主要优势:
- 使用电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)可靠检测高纯度钨中的微量元素
- 通过自动调谐和直观软件简化日常操作
- 为实验室环境提供高精度和合规性支持

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