科学、工业和商业领域的用户通常采用光谱法分析材料中的不同成分。在许多情况下，主要和次要元素浓度的精确测定是至关重要的。波长色散X射线荧光（WD-XRF）光谱仪常用于这些应用中，因为其可以提供所需的精密度。
能量色散X射线荧光（ED-XRF）光谱仪早已用于筛选分析。然而，现代仪器已经达到与WD-XRF相当的精密度水平。因此，它们现在适合分析主次元素以及各种基体中选定的微量元素，如地质样品、矿物样品、水泥、陶瓷、耐火材料或玻璃。
熔融制样技术主要用于降低基体效应，提高分析的准确度和精密度。与压片法相比，熔片法消除了粒度效应和矿物效应。在测定氧化物基体样品中的主要元素与次要元素浓度时，分析制备成熔融玻璃片的样品为良好的准确度提供了基础。
本文主要以SPECTRO XEPOS ED-XRF光谱仪为例，分析了地质和矿物样品中的主要元素和次要元素，样品制备成熔融玻璃片。采用偏振和直接激发技术，可以满足高精密度、高准确度的要求，是一种强大的分析工具。