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应用报告
SPECTRO XEPOS在硅砂粉末压片样品元素分析中的应用
硅砂主要由二氧化硅 (SiO
2
) 组成，是建筑、玻璃制造和水过滤等行业的重要材料。确保其纯度和杂质含量最低对于实现高质量产品和高效工业流程至关重要。
来自粘土、氧化铁和其他来源的污染物，如氧化铝（Al
2
O
3
）、氧化钾（K
2
O）、氧化钙（CaO）、二氧化钛（TiO
2
）和氧化铁（Fe
2
O
3
），会显著影响硅砂的性能，导致在玻璃制造等需要高透明度和强度的应用中产生次优结果。在生产用于电子设备和太阳能电池板的高纯度硅产品时，低污染水平尤为重要。在水过滤系统中，受污染的硅砂会降低效率并增加维护成本。监测并减少硅砂中的污染物是优化性能、降低生产成本和满足行业标准的关键。
本元素分析报告强调了采购、加工和质量控制实践对于保持硅砂低污染水平的重要性。使用能量色散X射线荧光技术可以解决这些分析难题。
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