作为碳元素的自然结晶矿物之一，石墨是广泛用于各种领域的材料，比如用于电池和电子工业的润滑剂，以及用于核反应堆技术中。很多产业需用到超高纯石墨，因此需要一种可靠且灵敏的石墨分析方法。
不过，分析石墨中的痕量元素相当困难。使用常见的电感耦合等离子体发射光谱法 (ICP-OES) 或质谱法 (MS) 等技术时，必须对样品进行消解，通常采用微波消解技术，不过该技术容易产生微量元素污染，造成影响。此外，由于石墨的物理和化学性质都极为稳定，消解很费时，还会产生大量气体和高压。这不仅限制了称取样品的重量，还无法保证每次都能消解完全。此外，基于溶液进样的分析通常要将样品至少稀释25倍（光谱法）或1000倍（质谱法），从而大幅降低了这些技术相对于原样的灵敏度。
因此，直接进样分析是一种更明智的替代方法。电热蒸发 (ETV) 和电感耦合等离子体发射光谱 (ICP-OES) 联用是一项优秀的技术。通过优化方法将石墨基体中的杂质蒸发出来，能实现优异的灵敏度。关于该方法的详细说明请参见DIN 51457[1]和ASTM D8186[2]标准。
若想实现更低的检出限，可将电热蒸发与轴向等离子体观测结合使用；若被分析物浓度较高，则电热蒸发结合径向等离子体观测的效果更好。
借助SPECTRO ARCOS MultiView的创新技术，同一台仪器就能使用径向和轴向观测方式来分析样品。
这让我们能够分析待测元素含量分布较宽的碳基化合物样品。
来下载这篇应用报告，了解更多内容吧！