X射线荧光光谱（XRF）分析的一个巨大优势是可以直接分析样品，而不需耗时和破坏性的样品消解。然而，要实现这些优势需要消除潜在的分析误差，当样品基体中的某些原子影响其他原子的荧光时，可能会产生分析误差，从而影响光谱仪测量的谱线强度。综合考虑这些效应，包括吸收和增强效应，通常被称为基体效应。目前，基体效可以很好的表征。
诸如SPECTRO TURBOQUANT系统之类的软件应用程序可以在几分钟内帮助分析复杂和完全未知的样品，并具有很高的准确度。
然而，为一贯的高准确度结果创建正确的基础需要额外的光谱处理功能来确定测量光谱的准确净强度。本文解释了为什么这种附加功能是克服基体效应和确保一贯的高准确度结果的关键。