金属样品测试可能会面临复杂挑战。样品检测来自于大型铸造厂、钢铁、铝或铜等金属冶炼厂，以及许多金属熔炼和加工厂、航空航天和汽车企业、检测实验室、政府和大学院所等。这些用户需
要高精度、高准确度地识别并测量其原料、生产过程和出厂材料中的所有元素和化合物。其中大多数用户采用高端固定式金属分析仪。
决定分析仪性能的一个关键因素是检测器技术。当前，还有很多用户采用包含传统光电倍增管PMT检测器的仪器来应对这些挑战。虽然光电倍增管PMT技术是钢铁厂和相关应用企业的习惯性选择，但仪器制造过程却比较复杂困难，而且分析仪一旦安装好之后需要增加元素基体配置难以实现。
近年来，专为金属分析应用而设计的基于互补金属氧化物半导体 (CMOS) 技术的检测器已经非常完善。下文的应用报告证明，将固态CMOS检测器整合到高端直读光谱仪中，其可靠性和各项重要性能指标都能等同和超越光电倍增管PMT检测器的表现：
• 仪器配置灵活性
• 元素分析灵敏度
• 稳定性
• 测量速度
• 耐用性
• 仪器制造工艺和质量一致性
这对大型铸造厂和钢铁、铝或铜的初级生产商，以及二次金属加工商、航空航天和汽车公司、测试实验室、政府或学术实验室来说都是个好消息。
这份最新的白皮书详细介绍了PMT问题以及基于CMOS的灵活性、灵敏度、稳定性、速度等。
今天就下载这篇让人大开眼界的论文。您将看到SPECTRO专有的CMOS+T技术如何将新的SPECTROLAB s带到一个全新的金属分析水平。