斯派克旗舰级SPECTRO ARCOS型ICP光谱仪定义元素分析新高度
SPECTROGREEN革命性新突破 垂直同步双观测技术（DSOI）
DSOI技术提供数倍于传统垂直观测系统的信号强度
TI技术带来的高灵敏度，能够实现对痕量元素进行测量，即使在充满挑战性的环境基体也能确保准确度，避免基体干扰。
响应极其敏锐的LDMOS发生器无需额外的外部水冷装置
新设计的软件系统简洁直观易于使用
适用于常规元素分析的高性价比解决方案
用于多元素分析的高性能XRF光谱仪
SPECTROCUBE ED-XRF 分析仪
小焦点ED-XRF光谱仪，为贵金属测试而优化
为野外和临线应用提供快速可靠的实验室级分析
可靠的现场金属材料分析
快速的现场合规性测试、环境筛选和元素分析
对于不同终端（USB 驱动器、网络或打印机）以各种格式同步存储结果
市场领先的移动式金属分析仪
对不能承担金属错误损失的您来说是一个简单选择
引领高端金属分析技术
完美无瑕的金属分析！
特有的iCAL 2.0单标样标准化专有技术 – 补偿温度波动造成的漂移，平均每天节省30分钟标准化时间
与前代产品相比，检出限提高了30%-40%（例如：铁、铝和铜基）
与之前的型号相比，在待机期间减少了高达64%的氩气消耗
适用于所有原材料和成品的日常分析和精确定量，以及冶炼铸造过程控制(包括氮元素分析) – 覆盖10个标准基体，68类德国原厂工作曲线和59种元素
高性能金属分析的经济实惠解决方案
基于SPECTRO智能逻辑校正（iCAL）的超快速单标样标准化，平均每天可节省30分钟
先进的光学技术实现高性能和经济实惠
与之前的型号相比，待机期间的氩气消耗减少了70%
节省空间：占地面积比以前的型号小35%
钢铁材料分析的高性价比优选方案
采用ICAL 2.0实现快速、简单的标准化
优异的分析性能
氩气消耗量降低
SPECTRO公司新研发的垂直同步双观测DSOI光学系统，为提升ICP-OES的灵密度提供了一种全新解决方案。采用该技术解决了等离子体观测的核心问题。该技术采用全新的视角观测并记录垂直燃烧的等离子体所产生的信号，使用两个光学接口，并用一个增强反射镜来捕获等离子体两侧发出的光，以增加灵敏度，巧妙地解决了困扰垂直炬焰双观测所存在的干扰等诸多问题。因此，DSOI提供的灵敏度是传统径向观测仪器的数倍，同时简单明了地解决了传统垂直双观测所存在的模式复杂、使用成本高等问题。
TI技术可自动观测水平和垂直向等离子体，可以观测到整个等离子体的信号，大幅提升了灵敏度、线性动态范围，同时避免了易电离元素 (EIE) 等基体效应。凭借这些特点，SPECTROGREEN TI能避免基体干扰，实现高灵敏度的痕量元素测量，即使在充满挑战性的环境基体也能确保准确度。
SPECTROGREEN SOP搭载了专用的垂直单观测技术，可在无需垂直同步双观测 (DSOI) 高灵敏度的情况下实现稳定和精确测量。
三种SPECTROGREEN版本都能可靠准确地分析废水、土壤、淤泥以及有机、高盐和金属样品等挑战性基体中的元素（痕量和较高浓度），适用于环境、农学、消费品安全、药物、化学品、石化产品和食品等常规分析应用。
SPECTROGREEN在分析挑战性的高重基体中的痕量元素方面具有显著优势，这类样品包括黑色及有色、石油及化工、污水及废水、土壤及淤泥、高盐和金属等。同时SPECTROGREEN光谱仪是环境、农学、医药、食品、及日用品安全等常规分析的理想选择。
SPECTROGREEN的推出得益于德国斯派克分析仪器公司40年的仪器研发制造及服务经验，集多年电感耦合等离子发射光谱（ICP-OES、ICP-AES及ICP等离子体）技术之大成。
SPECTROGREEN ICP-OES光谱仪预制了斯派克公司专有的ICP ANALYZER PRO software软件，简洁直观，易于操作，分析效率大大提高。
德国斯派克分析仪器公司生产的其他型号的ICP-OES包括：SPECTRO GENESIS及 SPECTRO ARCOS。
您可以在我们的资源库中找到与 SPECTROGREEN 产品相关的应用报告。
您可以在我们的资源库中找到与 SPECTROGREEN 产品相关的白皮书。
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