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采矿-地质化学
在采矿和地质化学领域,斯派克的先进分析仪独领风骚
SPECTRO ARCOS
顶级的 SPECTRO ARCOS ICP-OES 分析仪将元素分析提升到一个新的水平
SPECTRO XEPOS
以杰出新性能水平重新定义ED-XRF分析的ED-XRF光谱仪
SPECTROLAB
新一代金属分析的顶级性能
SPECTROSCOUT
将实验室级分析带到野外或生产车间的便携式ED-XRF光谱仪
应用报告和白皮书
应用报告
铁矿石和铁烧结矿中次要成分的分析
Application Brief
Bio-Geochemistry: Analyzing Trace Elements in Sediment Using ED-XRF
Application Brief
Analysis of Minerals Containing Fluorspar – Screening of Fluorine Content by ED-XRF
Application Brief
Analysis of Secondary Components in Iron Ore and Iron Sinter
On-Demand Webinar
ICP Analyzer Pro Software Demonstration
On-Demand Webinar
ICP-OES: What Does Multiview Technology Mean?
On-Demand Webinar
ICP-OES Smart Background Correction for Complex Matrices
White Paper
Comparing ICP-OES Analyzers’ Plasma Views: Axial, Radial, Dual, MultiView, and New Dual Side-On Interface
On-Demand Webinar
ICP-OES Plasma Observation Technologies and Their Application
Video
What do you need in an ICP-OES analyzer?
On-Demand Webinar
Nondestructive Quantitative Analysis of low Amounts of Powder and Liquid Samples Using XRF
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The New SPECTROGREEN – the Perfect fit for Your ICP-OES Elemental Analysis Tasks
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How to Analyze Gemstones Using ED-XRF Equipment
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Data Analysis in the Rearview Mirror - SPECTRO ICP Analyzer Pro Software
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High Throughput Analyses with ED-XRF
Application Brief
Analysis of Nickel Ore by ICP-OES with Dual-Side-On Plasma Observation
元素分析是勘探和采矿过程中最重要的调查手段之一。
X射线荧光(ED-XRF)光谱仪
为岩石、勘探样本、矿物、矿石、富集矿和尾矿的分析提供了方便快捷的方法,通常需要远少于其他技术的样本制备工作。
针对样品量大、要求分析时间短、尤其是轻元素检出限低,
ICP-OES
等离子体发射光谱仪
提供了所需性能。两种技术均可轻松实现自动化,不到两分钟即可完成样本分析,达到亚ppm(百万分之一)和ppb(十亿分之一)范围的检出限。
MacCMS
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