无可匹敌的灵敏度和极端精确性，适用于高要求的应用
SPECTROGREEN革命性新突破 垂直同步双观测技术（DSOI）
DSOI技术提供数倍于传统垂直观测系统的信号强度
全新GigE读出系统显著地大幅提高光谱处理及传输速度
响应极其敏锐的LDMOS发生器无需额外的外部水冷装置
新设计的软件系统简洁直观易于使用
价格和性能达到完美
就是如此简单！原子吸收光谱法和顺序型ICP的真正替代技术
ICP-MS技术的飞跃
用于多元素分析的高性能XRF光谱仪
SPECTROCUBE ED-XRF 分析仪
小焦点ED-XRF光谱仪，为贵金属测试而优化
全能小焦点XRF天才仪器，适合于单点分析、线扫描和mapping
为野外和临线应用提供快速可靠的实验室级分析
基于SDD的 手持式ED-XRF光谱仪系列
基于SDD的手持式ED-XRF
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具有最大灵活性的ICP-MS
使用SPECTRO MS ICP MS，完整质谱的数据储存在方法开发方面实现史无前例的灵活性，使得日后再鉴定样品中元素成为可能，即使样品已不再存在。
具备同位素分析能力的ICP-MS
SPECTRO MS是首台不仅能同步测定元素成分，也能测定从锂到铀等整个质量范围同位数比值的ICP-MS（ICP质谱仪）。完全同步的测量可带来明显提高的精确度，从而开发新的应用领域。
效率领先的ICP-MS
高样品处理量是每一台分析仪器盈利能力的关键。SPECTRO MS ICP MS为全谱同时分析、简便操作和最高可靠性设定新标准。
精确且准确的ICP-MS
通过G3离子探测器的惊人读出能力，SPECTRO MS ICP MS仪器获得优秀的检出限、精确度和准确度。
科学证据在今天的司法体系中起到关键作用：很多重大犯罪调查几乎完全根据这种证据取得结论。积累法医证据过程中应用到很多科学分支，从公众非常熟悉的DNA测定到病理学和植物学，当然还有化学分析。对调查过程中发现的一件物体进行元素分析可就其来源和历史提供珍贵线索。但是，该物体本身可能需要作为证据展示，因此用于这个分析的任何技术理想情况下应该是非破坏性的。样本类型和大小的变数可能是无限的：从土壤样本到子弹，到微小的射击残留物或玻璃碎片。考古测量学是科学方法在考古学中的应用，也有类似的需求。能量色散X射线荧光（EDXRF）光谱法是一种通用分析技术，能满足这两种需求：它是非破坏性的，需要极少样品制备，经过配置可处理任何大小的样品，从很大的表面积到几微米。斯派克分析仪器和EDAX（均为阿美特克公司材料分析部的成员公司）供应多种类型的EDXRF光谱仪，为法医学调查和考古测量学的很多元素分析任务提供解决方案。
元素分析及其同位素比值的测定是地质化学中广泛使用的技术，尤其普遍用于地质定年和对岩石、矿物和陶瓷进行“指纹识别”。所谓的“稀土元素”被广泛用作诊断指标，要求进行超低含量的准确测定。相关技术——同位数稀释是一种评估方法，可对地质样本中的痕量元素含量进行极其精确的测量。同位素稀释也常用于准备标准参考材料（SRM）。电感耦合等离子质谱法（ICP-MS）是广泛用于此类测量的分析方法，其中样品的溶液被导入到电感耦合等离子的高温环境中。等离子使样品分裂成原子，然后将原子（同位素）电离。所产生的离子随后被传送到质谱仪中，并在其中根据质荷比分离。大多仪器扫描一系列质量数字，连续测量每一种同位素。因为每次仅测量一种质荷比，样本导入过程、等离子和探测系统的任何波动都可能导致观察到的同位素比值产生错误。此外，人们可能希望测量一系列元素，以便建立该样本的元素“指纹”，从而允许使用不同的同位素组合评估各种计算策略。今天的仪器最多仅能测量小质量范围，能力备受限制。其他仪器使用脉冲离子束，限制了灵敏度和动态工作范围。在处理瞬态信号时——如在使用与HPLC和激光烧蚀样品导入这类技术的联用测量中，扫描速度较慢或扫描一个有限质量范围的仪器显然处于劣势。为减少这些问题，仪器技术已得到发展，但直至现在，大部分ICP-MS仪器依然或多或少依赖于扫描以及随之而来的问题。
一台全同步ICP-MS——基于紧凑的马陶赫-赫尔佐格型几何结构，拥有永磁体和大型空间解释半导体离子探测器，一次测量可覆盖完整的无机相关质量范围，从锂6到铀238——已被用于测定同位数比值，评估可获得的同位素比值精确度。作为例子，一台拥有全异同位素比值的同位素系统对铀235/238同位素比值进行测量，精确度达到0.05%（相对值）。为评估所用系统的预计多同位素比值测量能力，跨越大范围的几个同位素比值（锂6/7, 锶84/86, 锶87/86, 锶88/86, 铅204/207 铅206/207和 铅208/207）被同步测量，以一种合成多元素标准作为样本。这次同步多同位素比值测量获得非常满意的同位素比值精确度，介乎0.5和0.04%（相对值）之间，具体因所涉及同位素比值而异。连同该系统的简要描述和所用的测量程序，所获得的结果被参照其他现有基于ICP-MS的同位素比值技术进行比较和评估。
质谱法已成为制药行业中广泛使用的技术，用于有机化合物的分析和鉴别。同样的基本原则也能应用于元素分析，而ICP-MS（其中质谱仪通过电感耦合等离子作为离子源来耦合）是对药品中金属杂质和其他无机物质进行检测和定量时的最灵敏技术之一。药品中存在这些物质有多种原因，可能是活性成分、原材料杂质或污染物。其中一些，尤其是“重金属”，总所周知是有毒性的，因此受到法规严格管制。因为大多治疗方案涉及反复用药，必须考虑到毒性元素的累积接触的允许水平，这就要求分析程序中的检出限很低。
出于质量控制目的，需要具备筛查多种低含量水平金属元素的能力。另一方面，在膳食补充剂这类产品中，一些元素可能以较高含量存在。因此，用于药品元素分析的理想分析技术将把在痕量水平测量多种元素的能力与处理较高含量所需的广阔动态范围结合起来。样本可能有多种形式，包括原材料、中间产品、制程化学品、溶剂和成品，因此分析技术必须能处理多种样本基体。使用的任何程序也必须遵守制药行业使用的质量标准，如US FDA 21 CFR Part 11。美国食品药品监督管理局新规定描述了药品中的元素杂质限值和分析程序。
这些规定中描述的两种分析方法是电感耦合等离子-光学发射光谱法（ICP-OES）和电感耦合等离子-质谱法（ICP-MS）。新型 SPECTRO MS是世界上首台全同步式ICP-MS系统。全谱ICP-MS相比传统仪器具有多个优势，本白皮书描述了这项革命性仪器的设计，并就其在制药行业的应用给出了几个实例。ICP-MS可能与其他技术结合起来，如HPLC和IC：本文仅涉及独立应用。