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地质学

Geology
行业

地质学

斯派克提供为地质学应用而优化的一系列X射线荧光光谱仪、ICP-OES等离子体发射光谱仪


应用报告和白皮书


元素分析是地质和环境研究中最重要的调查手段之一。地质样本常包含多种含量相差巨大的元素。

斯派克仪器目录包括一系列为地质野外工作而优化的X射线荧光光谱仪ICP-OES等离子体发射光谱仪。能量色散X射线荧光(ED-XRF)光谱仪,如SPECTRO XEPOS,为岩石、勘探样本、矿物、矿石、富集矿和尾矿的分析提供了方便快捷的方法,通常需要远少于其他技术的样本制备工作。便携式光谱仪SPECTROSCOUT是一种ED-XRF光谱仪,分析能力直追顶级实验室台式分析仪,但令人难以置信的是,这款小型便携式光谱仪可在野外任何地方提供快速、可靠、真正实验室级别的结果。

ICP-OES光谱仪,如SPECTROGREENSPECTRO ARCOS,均已长期用于地质应用。针对样本量大、要求分析时间短、低检出限,尤其是轻元素的情况,ICP-OES和MS达到期望的性能。两种技术均可轻松实现自动化,不到两分钟即可完成样本分析,达到亚ppm(百万分之一)和ppb(十亿分之一)范围的检出限。